科研型原子力顯微鏡

型　號(hào)FM-Nanoview R-AFM

更新時(shí)間2025-10-30

所屬分類(lèi)科研型原子力顯微鏡

訪問(wèn)次數(shù)2782

產(chǎn)品描述：科研型原子力顯微鏡（FM-Nanoview R-AFM），高性能和高性?xún)r(jià)比的科學(xué)研究級(jí)AFM。

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產(chǎn)品特色：

◆ 高性能和高性?xún)r(jià)比的科學(xué)研究級(jí)AFM

◆ 支持多種工作模式和多種功能模塊擴(kuò)展，滿足絕大多數(shù)的基礎(chǔ)科研應(yīng)用

◆ 開(kāi)放式的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，支持更多定制化的功能選擇

◆ XYZ三軸獨(dú)立閉環(huán)壓電陶瓷掃描器，同時(shí)實(shí)現(xiàn)高精度的定位和高分辨掃描測(cè)量

◆ 閉環(huán)壓電陶瓷掃描測(cè)量無(wú)需非線性校正，納米表征和測(cè)量精度優(yōu)于99.5%

技術(shù)參數(shù)：

掃描范圍	XY閉環(huán)100*100um，Z閉環(huán)10 um	系統(tǒng)噪音水平	RMS≤30 pm
掃描分辨率	XY閉環(huán)0.2nm， Z閉環(huán)0.04nm	圖像采樣點(diǎn)	最高4096*4096
掃描速度	0.1Hz~100Hz	減震方式	氣浮式減震臺(tái)或主動(dòng)式減震臺(tái)
標(biāo)準(zhǔn)成像模式	接觸模式、輕敲模式、相位成像、側(cè)向力模式（LFM）
力學(xué)測(cè)量模式	F-Z力曲線、RMS-Z曲線、高級(jí)力譜成像、力學(xué)Mapping測(cè)量
電學(xué)測(cè)量模式	靜電力模式（EFM）、導(dǎo)電力模式（C-AFM）、開(kāi)爾文探針力模式（KPFM）、壓電力模式（PFM）、掃描電阻模式（SSRM）、掃描電容模式（SCM）
磁學(xué)測(cè)量模式	磁力模式（MFM）、可調(diào)制外加磁場(chǎng)
納米刻蝕功能	力學(xué)刻蝕、電學(xué)刻蝕
環(huán)境控制功能	液體成像模式、密閉氣氛控制模式（特殊氣體）、冷熱一體溫控模式（-20℃~200℃）、電化學(xué)測(cè)量模式
光學(xué)輔助功能	可適配體視顯微鏡、正置金相顯微鏡、倒置生物顯微鏡聯(lián)用

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